大谷　優君が国際会議で学生賞を受賞｜工学部トピックス

大谷　優君が国際会議で学生賞を受賞

: 　当学科大学院１年生の大谷君が5月29日(火)から6月2日(土)までハワイで開催された、「第56回電子イオン光ビーム技術とナノ加工国際会議」（56th International Conference on Electron, Ion, and Photon Beam Technology and Nanofabrication (EIPBN 2012)）において「学生旅費支援賞」（Student Travel Awards）を獲得しました。世界の有名大学から参加した多数の学生発表者の中から選出され、5月31日に受賞研究の口頭発表し、6月1日朝の授賞式では1,400ドルの授与を受けました。

　研究題目は「走査電子顕微鏡試料室内のフォギング電子による絶縁体フィルム表面の電位分布測定」（Measurement of Surface Potential Distribution at an Insulating Film Produced by Fogging Electrons in a Scanning Electron Microscope）で、彼の開発した独自のシステムを用いて、初めて走査電子顕微鏡試料室内でのフォギング電子による帯電電位を広範囲（ｃｍオーダー）で微細（ｎｍオーダー）な分解能で測定することが出来ました。その成果について各国の研究者から賞賛されました。