カナダMcGill大学のRaynald Gauvin教授の講演会を開催しました
2015年6月11日
- 6月8日(月)の第3限に5号館2階大学院講義室で、電子情報通信工学科とナノ材料マイクロデバイス研究センターの共催でカナダMcGill大学のRaynald Gauvin教授の講演会を開催しました。講演題目は「High resolution x-ray microanalysis and imaging in a field emission electron microscope（電界放出型走査電子顕微鏡による高分解能X線分析とイメージング）」でした。現在の最先端の超高分解能走査電子顕微鏡では原子配列が直接観察でき、その組成分析もできることを多くの実例をもとに紹介してくれました。また超低加速電圧（～数10V）では表面に存在するナノメートルの厚みの材料まで画像化できることを示してくれました。
電子情報通信工学科小寺教授の研究室のM0（次年度大学院に進学する卒研生）が昨年度からGauvin教授の研究室に2か月間留学しており、2015年度もM0が留学する予定です。彼らの研究テーマは「フォギング電子電流の測定」で、電子ビーム応用技術全般で重要な研究です。McGill大学の装置と本学のナノ材料マイクロデバイス研究センターの装置で得られる研究結果を比較しながら知見を深めることに期待しています。学生にとって留学する機会は何より貴重で、その経験を今後の人生に生かしてほしいと思います。
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