Effects of electric field screening induced by photogenerated carriers on terahertz wave measurement in a GaAs epitaxial structure
半導体結晶を超短光パルスで励起すると、キャリア（光励起電子・正孔）が大量に生成され、
内部電場を遮蔽（スクリーニング）します。このスクリーニング効果は光伝導アンテナにおけるテラヘルツ波の発生効率を低下させるため、
従来のテラヘルツ波分野では望ましくない現象として捉えられていました。
本研究では、この光励起キャリアによるスクリーニング効果を積極的に応用することで、
テラヘルツ波の時間波形を計測できることを見出しました。
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